Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تعد السيلولوز واحدة من المواد الأساسية المستخدمة في العديد من التطبيقات الصناعية، وتتميز بخصائصها الفيزيائية والكيميائية المميزة. ومن بين هذه الخصائص تحديد مؤشر التبلور أو مؤشر التركيب البلوري للسيلولوز، وهو مؤشر هام جدًا في تحديد درجة ترتيب ذرات المادة.

تقنية FTIR:

تعد تقنية FTIR من التقنيات المستخدمة لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يتم قياس امتصاص الأشعة تحت الحمراء للعينة المراد دراستها. تختلف شدة الامتصاص بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم امتصاص الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب مؤشر التبلور باستخدام تقنية FTIR، يتم قياس شدة الامتصاص في منطقة الأشعة تحت الحمراء المرتبطة بالروابط الكيميائية الموجودة في المادة. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الامتصاص في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي مؤشرًا عن درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

تقنية XRD:

تعد تقنية XRD من التقنيات المستخدمة لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يتم قياس انعكاس الأشعة السينية على العينة المراد دراستها. تختلف شدة الانعكاس بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم انعكاس الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب مؤشر التبلور باستخدام تقنية XRD، يتم قياس زوايا الانعكاس للأشعة السينية على العينة المراد دراستها. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الانعكاس في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي مؤشرًا عن درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

المقارنة بين تقنيات FTIR و XRD:

تتميز تقنية XRD بدقتها العالية في تحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يمكنها تحديد درجات الترتيب البلوري بدقة عالية. ومع ذلك، فإن تقنية FTIR تتميز بسهولة استخدامها وتوفرها في العديد من المختبرات، كما أنها تعطي نتائج سريعة ودقيقة.

بالإضافة إلى ذلك، يمكن استخدام تقنيات FTIR و XRD معًا للحصول على نتائج أكثر دقة في تحديد مؤشر التبلور للسيلولوز. حيث يتم استخدام تقنية FTIR لتحديد الروابط الكيميائية الموجودة في السيلولوز، واستخدام تقنية XRD لتحديد درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

في النهاية، يمكن استخدام تقنيات FTIR و XRD لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز بدقة عالية، وهذا يعطي فهمًا أفضل لخصائص المادة. وبذلك، يتم تحقيق فهم أفضل لخصائص السيلولوز، وذلك لتطوير تطبيقات جديدة ومبتكرة في مجالات مختلفة.

Javidparvar@gmail.com
+989132050479

يشير مطيافية الانبعاث الضوئي (القياس الطيفي للإنبعاث الضوئي) و المعروفة أيضًا باسم بالمطيافية الضوئية الإلكترونية ( المطيافية الكهروضوئية أو القياس الطيفي الضوئي الإلكتروني) إلى قياس طاقة الإلكترونات المنبعثة من المواد الصلبة أو الغازات أو السوائل بواسطة التأثير الكهروضوئي ، من أجل تعيين طاقات الربط للإلكترونات الموجودة في مادة ما و لتحديد جهود التأين للجزيئات.

فالعينة التي تكون على شكل بخار او غاز يتم اشعاعها بشعاع دقيق من الأشعة فوق البنفسجية فالإلكترونات النتاجة عن تلك العملية تمرر خلال شق ( فتحة ضيقة ) إلى منطقة مفرغة حيث تنحرف بتأثير مجالات مغناطيسية أو كهربائية لتعطي طيف للطاقة . فالطيف الإلكتروني الضوئي يشمل قمما ترتبط مع جهود التأين للجزيئات ( و بالتالي طاقات الفلك )، و ايضا توفر هذه التقنية معلومات حول مستويات الطاقة الإهتزازية للأيونات المتكونة .

يشير المصطلح إلى تقنيات مختلفة و ذلك اعتمادًا على ما إذا كانت طاقة التأين يتم توفيرها بواسطة فوتون الأشعة السينية أو فوتون (فوتون الأشعة فوق بنفسجسة القوية أو عالية الطاقة) أو فوتون الأشعة فوق البنفسجية. و بغض النظر عن شعاع الفوتون الساقط ، فإن كل القياسات الطيفية الضوئية تدور حول الموضوع العام لتحليل السطح عن طريق قياس الإلكترونات المقذوفة.

طور كاي سيجبان القياس الطيفي للأشعة السينية الإلكترونية منذ العام 1957 و استخدم لدراسة مستويات الطاقة للإلكترونات الداخلية للذرة في المواد الصلبة بشكل أساسي. و قد أشار سيجبان إلى هذه التقنية باسم “القياس الطيفي للإلكترون للتحليل الكيميائي أو مطيافية الإلكترون للتحليل الكيميائي”، و حيث أن المستويات الداخلية لها تحولات كيميائية صغيرة تبعًا للبيئة الكيميائية للذرة المؤينة فقد سمح ذلك بتحديد التركيب الكيميائي.

حصل سيجبان و نتيجة لأبحاثه حول هذا العمل على جائزة نوبل عام 1981 . و أحيانا يشار إلى باسم (مطيافية الإلكترون الضوئية للأفلاك الداخلية) ، في حين يشار إلى الإشعاع المنخفض الطاقة لضوء الأشعة فوق البنفسجية باسم (الأفلاك الخارجية) لأنه لا يمكن أن تثير الإلكترونات الداخلية.

في المنطقة فوق البنفسجية والمرئية ، يشار إلى هذه الطريقة عادة باسم المطيافية الكهروضوئية لدراسة الغازات ، و مطيافية الإنبعاث الضوئي للأسطح الصلبة.

يستخدم المطيافية الكهروضوئية للأشعة فوق البنفسجية لدراسة مستويات طاقة التكافؤ والترابط الكيميائي و لا سيما خصائص الترابط للمدارات الجزيئية. فقد تم تطوير هذه الطريقة في الأصل لجزيئات الطور الغازي في عام 1961 بواسطة فيودور فيليسوف وفي عام 1962 بواسطة ديفيد تورنير ومن بين العلماء الآخرين الاوائل الذين عملوا في هذا المجال: ديفيد فروست و ج. إيلاند و ك. كيمورا وفي وقت لاحق قام ريتشارد سمالي بتعديل التقنية واستخدم ليزرالأشعة فوق البنفسجية لإثارة العينة من أجل قياس طاقة الربط للإلكترونات في التجمعات الجزيئية الغازية.

يعمل مطيافية الإلكترون الضوئي ثنائية الفوتون على توسيع التقنية لتشمل الحالات الإلكترونية المستثارة بصريًا من خلال إدخال مخطط المضخة ة المجس .

يقع المطيافية الكهروضوئية للأشعة فوق البنفسجية القوية بين و . و يستخدم عادة لتقييم بنية رابطة التكافؤ. و بالمقارنة مع ، فإنه يعطي دقة طاقة أفضل ، وبالمقارنة مع تكون الإلكترونات المقذوفة أسرع ، مما ينتج عنه شحنة مساحة أقل وتخفيف آثار الحالة النهائية.