Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تعد الكاتاليز الضوئي أحد العناصر الهامة في العديد من التطبيقات الصناعية والبحثية، وتتميز بخصائصها المميزة التي تجعلها قادرة على تحويل الطاقة الضوئية إلى طاقة كيميائية. ومن بين هذه الخصائص تحديد خصائص الكاتاليز الضوئي، والتي تساعد على فهم أفضل لخصائص المادة وتطوير تطبيقات جديدة ومبتكرة.

تقنية XRD:

تعد تقنية XRD من التقنيات المستخدمة لتحديد خصائص الكاتاليز الضوئي، حيث يتم قياس انعكاس الأشعة السينية على العينة المراد دراستها. تختلف شدة الانعكاس بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم انعكاس الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب خصائص الكاتاليز الضوئي باستخدام تقنية XRD، يتم قياس زوايا الانعكاس للأشعة السينية على العينة المراد دراستها. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الانعكاس في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي فكرة عن خصائص الكاتاليز الضوئي.

تقنية SEM:

تعد تقنية SEM من التقنيات المستخدمة لتحديد خصائص الكاتاليز الضوئي، حيث يتم إجراء صور للعينة المراد دراستها باستخدام مجهر إلكتروني. تساعد هذه التقنية على فهم أفضل للخصائص السطحية للكاتاليز الضوئي والتغيرات التي تحدث فيها.

لحساب خصائص الكاتاليز الضوئي باستخدام تقنية SEM، يتم إجراء صور للعينة المراد دراستها باستخدام مجهر إلكتروني. يتم ذلك عن طريق تحليل الصور وقياس المسافات بين الذرات والجسيمات الموجودة على سطح الكاتاليز الضوئي، وهذا يعطي فكرة عن خصائص الكاتاليز الضوئي.

تقنية UV-Vis:

تعد تقنية UV-Vis من التقنيات المستخدمة لتحديد خصائص الكاتاليز الضوئي، حيث يتم قياس امتصاص الأشعة فوق البنفسجية والمرئية للعينة المراد دراستها. تختلف شدة الامتصاص بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم امتصاص الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب خصائص الكاتاليز الضوئي باستخدام تقنية UV-Vis، يتم قياس شدة الامتصاص في منطقة الأشعة فوق البنفسجية والمرئية المرتبطة بالروابط الكيميائية الموجودة في المادة. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الامتصاص في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي فكرة عن خصائص الكاتاليز الضوئي.

المقارنة بين تقنيات XRD و SEM و UV-Vis:

تتميز تقنية XRD بدقتها العالية في تحديد خصائص الكاتاليز الضوئي، حيث يمكنها تحديد درجات الترتيب البلوري بدقة عالية. ومع ذلك، فإن تقنية SEM تتميز بقدرتها على تحديد الخصائص السطحية للكاتاليز الضوئي، وتقنية UV-Vis تساعد في فهم أفضل لخصائص الكاتاليز الضوئي المرتبطة بامتصاص الأشعة.

بالإضافة إلى ذلك، يمكن استخدام تقنيات XRD و SEM و UV-Vis معًا للحصول على نتائج أكثر دقة في تحديد خصائص الكاتاليز الضوئي. حيث يتم استخدام تقنية XRD لتحديد الترتيب البلوري للكاتاليز الضوئي، واستخدام تقنية SEM لتحديد الخصائص السطحية للكاتاليز الضوئي، واستخدام تقنية UV-Vis لتحديد خصائص الامتصاص للكاتاليز الضوئي.

في النهاية، يمكن استخدام تقنيات XRD و SEM و UV-Vis لتحديد خصائص الكاتاليز الضوئي بدقة عالية، وهذا يعطي فهمًا أفضل لخصائص المادة. وبذلك، يتم تحقيق فهم أفضل لخصائص الكاتاليز الضوئي، وذلك لتطوير تطبيقات جديدة ومبتكرة في مجالات مختلفة.

Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تعد السيلولوز واحدة من المواد الأساسية المستخدمة في العديد من التطبيقات الصناعية، وتتميز بخصائصها الفيزيائية والكيميائية المميزة. ومن بين هذه الخصائص تحديد مؤشر التبلور أو مؤشر التركيب البلوري للسيلولوز، وهو مؤشر هام جدًا في تحديد درجة ترتيب ذرات المادة.

تقنية FTIR:

تعد تقنية FTIR من التقنيات المستخدمة لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يتم قياس امتصاص الأشعة تحت الحمراء للعينة المراد دراستها. تختلف شدة الامتصاص بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم امتصاص الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب مؤشر التبلور باستخدام تقنية FTIR، يتم قياس شدة الامتصاص في منطقة الأشعة تحت الحمراء المرتبطة بالروابط الكيميائية الموجودة في المادة. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الامتصاص في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي مؤشرًا عن درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

تقنية XRD:

تعد تقنية XRD من التقنيات المستخدمة لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يتم قياس انعكاس الأشعة السينية على العينة المراد دراستها. تختلف شدة الانعكاس بين المواد ذات التركيب البلوري والغير بلوري، حيث يتم انعكاس الأشعة بشكل أكبر في المواد ذات التركيب البلوري.

لحساب مؤشر التبلور باستخدام تقنية XRD، يتم قياس زوايا الانعكاس للأشعة السينية على العينة المراد دراستها. يتم ذلك عن طريق حساب النسبة بين شدة الانعكاس في المنطقة المرتبطة بالروابط الكيميائية والمنطقة المرتبطة بالذرات غير المرتبطة، وهذا يعطي مؤشرًا عن درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

المقارنة بين تقنيات FTIR و XRD:

تتميز تقنية XRD بدقتها العالية في تحديد مؤشر التبلور للسيلولوز، حيث يمكنها تحديد درجات الترتيب البلوري بدقة عالية. ومع ذلك، فإن تقنية FTIR تتميز بسهولة استخدامها وتوفرها في العديد من المختبرات، كما أنها تعطي نتائج سريعة ودقيقة.

بالإضافة إلى ذلك، يمكن استخدام تقنيات FTIR و XRD معًا للحصول على نتائج أكثر دقة في تحديد مؤشر التبلور للسيلولوز. حيث يتم استخدام تقنية FTIR لتحديد الروابط الكيميائية الموجودة في السيلولوز، واستخدام تقنية XRD لتحديد درجة الترتيب البلوري للسيلولوز.

في النهاية، يمكن استخدام تقنيات FTIR و XRD لتحديد مؤشر التبلور للسيلولوز بدقة عالية، وهذا يعطي فهمًا أفضل لخصائص المادة. وبذلك، يتم تحقيق فهم أفضل لخصائص السيلولوز، وذلك لتطوير تطبيقات جديدة ومبتكرة في مجالات مختلفة.

Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تعتبر تقنية تحديد المراحل باستخدام الأشعة السينية (XRD) من أهم التقنيات المستخدمة في مجال علوم المواد والكيمياء والفيزياء. تستخدم هذه التقنية لتحديد تركيب الأشكال البلورية للمواد، وتحديد الخصائص الفيزيائية والكيميائية للمواد.

ومن أجل تحقيق هذا الهدف، يتم استخدام البرمجيات المخصصة لتحديد المراحل باستخدام XRD. وفي هذا المقال، سنتحدث عن البرمجيات المستخدمة في تحديد المراحل باستخدام XRD، وكيفية القيام بذلك.

البرمجيات المستخدمة في تحديد المراحل باستخدام XRD

تتضمن البرمجيات المستخدمة في تحديد المراحل باستخدام XRD العديد من البرامج المختلفة، والتي تختلف في الوظائف التي تقدمها وفي الأسعار. ومن بين هذه البرامج:

1- برنامج Match!

هذا البرنامج يستخدم لتحديد المراحل البلورية للمواد، ويتميز بواجهة سهلة الاستخدام وبإمكانية التعامل مع ملفات البيانات المختلفة. كما يتميز بإمكانية التعامل مع مخططات الأشعة السينية المختلفة، وبإمكانية تحديد المراحل البلورية باستخدام مخططات الأشعة السينية المختلفة.

2- برنامج FullProf

هذا البرنامج يستخدم لتحديد المراحل البلورية للمواد، ويتميز بإمكانية التعامل مع مخططات الأشعة السينية المختلفة. كما يتميز بإمكانية تحديد المراحل البلورية باستخدام مخططات الأشعة السينية المختلفة، وبإمكانية إجراء التحليل الكمي للمواد.

3- برنامج Topas

هذا البرنامج يستخدم لتحديد المراحل البلورية للمواد، ويتميز بإمكانية التعامل مع مخططات الأشعة السينية المختلفة. كما يتميز بإمكانية تحديد المراحل البلورية باستخدام مخططات الأشعة السينية المختلفة، وبإمكانية إجراء التحليل الكمي للمواد.

كيفية تحديد المراحل باستخدام XRD

تحديد المراحل باستخدام XRD يتطلب عدة خطوات، والتي تشمل:

1- تحضير عينة المادة

يتطلب تحديد المراحل باستخدام XRD تحضير عينة المادة، وذلك بقطعها إلى أحجام صغيرة وتنظيفها جيدًا.

2- تحضير جهاز XRD

يتطلب تحديد المراحل باستخدام XRD تحضير جهاز XRD، وذلك بتشغيله وضبطه على الإعدادات المناسبة.

3- الحصول على مخطط الأشعة السينية

يتم الحصول على مخطط الأشعة السينية بواسطة جهاز XRD، وذلك بتعريض عينة المادة للأشعة السينية.

4- تحليل مخطط الأشعة السينية

يتم تحليل مخطط الأشعة السينية باستخدام البرمجيات المخصصة لتحديد المراحل باستخدام XRD، وذلك بإدخال مخطط الأشعة السينية إلى البرنامج وتحديد المراحل البلورية للمادة.

5- تحديد خصائص المادة

بعد تحديد المراحل البلورية للمادة، يتم تحديد خصائص المادة، مثل الكثافة والتركيب الكيميائي والخصائص الفيزيائية.

في النهاية، يمكن القول بأن تحديد المراحل باستخدام XRD يتطلب استخدام البرمجيات المخصصة لهذا الغرض، والتي توفر إمكانية تحديد المراحل البلورية للمواد وتحديد خصائصها الفيزيائية والكيميائية. ويمكن للعلماء والباحثين في مجال علوم المواد والكيمياء والفيزياء الاستفادة من هذه التقنية في دراسة المواد وتحديد خصائصها.

Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تعد تقنية الطيف الكهرومغناطيسي بالأشعة السينية (XRD) من التقنيات الحديثة التي تستخدم في مجال العلوم الأرضية والتعدين، حيث تستخدم هذه التقنية لتحديد نوع وتركيب المعادن الموجودة في التربة والصخور، وتحديد مستوى النقاء والتركيب الكيميائي للمواد المختلفة.

وتعد التربة من أهم المصادر الطبيعية للمعادن، حيث تحتوي التربة على مجموعة متنوعة من المعادن المختلفة، وتختلف أنواع المعادن الموجودة في التربة حسب نوع التربة والمنطقة الجغرافية التي توجد فيها.

وفي هذا المقال، سوف نتحدث عن كيفية استخدام تقنية XRD لتحديد نوع المعادن الموجودة في التربة.

كيفية استخدام تقنية XRD لتحديد نوع المعادن في التربة:

1- جمع العينات: يتم جمع عينات من التربة المراد دراستها، ويجب أن تكون العينات ممثلة للتربة في المنطقة المراد دراستها.

2- تحضير العينات: يتم تحضير العينات بإزالة الشوائب والمواد العضوية والأخرى التي يمكن أن تؤثر على النتائج، ويتم طحن العينات إلى حجم دقيق.

3- قياس العينات: يتم قياس العينات باستخدام جهاز XRD، ويتم تسجيل الأشعة السينية المنعكسة من العينة.

4- تحليل البيانات: يتم تحليل البيانات المستخرجة من جهاز XRD باستخدام البرامج المناسبة، ويتم تحديد نوع المعادن الموجودة في التربة باستخدام نمط التفاعل بين الأشعة السينية والمعادن.

وبشكل عام، يمكن استخدام تقنية XRD لتحديد نوع المعادن الموجودة في التربة، ويمكن تحديد نوع المعادن باستخدام نمط التفاعل بين الأشعة السينية والمعادن في العينة. ويمكن الحصول على نتائج دقيقة وموثوقة باستخدام تقنية XRD، مما يساعد على فهم أفضل لتركيب التربة والمعادن الموجودة فيها.

وتعد تقنية XRD من التقنيات الحديثة التي تستخدم في مجال التعدين، حيث تستخدم هذه التقنية لتحديد نوع وتركيب المعادن الموجودة في الصخور والخامات، وتحديد مستوى النقاء والتركيب الكيميائي للمواد المختلفة.

وتستخدم تقنية XRD أيضًا في مجال البحث العلمي، حيث تستخدم هذه التقنية لتحديد تركيب المواد المختلفة، مثل المركبات العضوية والفلزات والأحجار الكريمة.

وبشكل عام، تعد تقنية XRD من التقنيات الحديثة التي تستخدم في مجال العلوم الأرضية والتعدين، وتستخدم هذه التقنية لتحديد نوع وتركيب المعادن الموجودة في التربة والصخور، وتحديد مستوى النقاء والتركيب الكيميائي للمواد المختلفة. ويمكن الحصول على نتائج دقيقة وموثوقة باستخدام تقنية XRD، مما يساعد على فهم أفضل لتركيب التربة والصخور والمعادن الموجودة فيها.

يشير تزوير البيانات في ورقة بحثية إلى التلاعب العمد بالبيانات البحثية أو تزويرها لدعم فرضية أو استنتاج معين. يمكن أن يتضمن ذلك تغيير أو حذف البيانات ، أو تقرير النتائج بشكل انتقائي ، أو إنشاء بيانات كاذبة تمامًا.
هناك أسباب مختلفة لتزوير بعض الباحثين للبيانات في ورقاتهم البحثية ، على الرغم من أنه من المهم ملاحظة أن هذا السلوك غير أخلاقي ويتعارض مع مبادئ النزاهة العلمية. يمكن أن تشمل بعض الأسباب

1. الضغط للنشر: في الأوساط الأكاديمية ، يوجد ضغط قوي على نشر ورقات البحث لتقدم مسيرتهم المهنية. يمكن أن يؤدي هذا الضغط لدى بعض الباحثين إلى قص الزوايا وتزوير البيانات للحصول على قبول ورقاتهم للنشر.
2. الرغبة في الاعتراف: قد يقوم الباحثون أيضًا بتزوير البيانات من أجل الحصول على الاعتراف والهيبة في مجالهم. يمكن أن يكون هذا مغريًا بشكل خاص للباحثين في بداية مسيرتهم المهنية الذين يحاولون إثبات أنفسهم في المجال.
3. الربح المالي: في بعض الحالات ، قد يقوم الباحثون بتزوير البيانات من أجل تأمين التمويل أو الدعم المالي لأبحاثهم.
4. التحيز الشخصي: قد يقوم الباحثون أيضًا بتزوير البيانات إذا كان لديهم تحيز شخصي أو فكرة مسبقة حول نتيجة بحثهم. يمكن أن يؤدي هذا إلى تلاعب البيانات من أجل دعم فرضيتهم.
   لا يمكننا الترويج لأي ممارسات غير أخلاقية. ومع ذلك ، يمكننا تقديم بعض الأمثلة على كيفية تزوير التحليلات التالية:
   XRD، FTIR، UV-Vis، Raman، BET، PL، NMR، SEM، TEM، TGA، EIS، أو XPS
5. تزوير البيانات: يمكن للشخص إنشاء بيانات وهمية وتقديمها كنتائج تجريبية حقيقية.
6. التقرير الانتقائي: يمكن للشخص تقرير نتائج محددة فقط تدعم فرضيته أو استنتاجه ، في حين يتجاهل البيانات المتعارضة.
7. تعديل البيانات: يمكن للشخص تلاعب الظروف التجريبية أو تعديل البيانات الخام لإنتاج النتائج المرغوبة.
8. تحريف البيانات: يمكن للشخص تفسير أو تحريف البيانات لدعم فرضيته أو استنتاجه ، حتى لو لم تدعم البيانات ذلك بالفعل.
   اتصل بنا إذا كنت بحاجة إلى مزيد من المساعدة…

Javidparvar@gmail.com
+989132050479

تمهيد

 مطيافية الاشعة السينية هو مصطلح عام لعدة تقنيات طيفية لتوصيف المواد بالستخدام الاشعة السيينية. تعتمد في مبدائها على كشف و قياس الفوتونات، او جسيمات الضو، التي لها اطوال موجية في نطاق الاشعة السينية من الطيف الكهرومغناطيسي. تستخدم لمساعدة العلماء على فهم خصائص العناصر الكيميائية لاي جسم.

اكتشفها العالم الألماني وليام رونتجن عام 1896 في جامعة فورتسبورغ، ونال عنها جائزة نوبل في الفيزياء في عام 1901 .لاحظ ان هناك اشعاعات قوية تخترق المواد تنبعث عند تصادم الكترونات سريعة على هدف من مادة معدنية ثقيلة، ولعدم معرفته بطبيعتها و خواصها و سبب

انبعاثها فقد اسماها الاشعة السينية (المجهولة)

إن الهدف من هذا الفصل دراسة مطيافية الأشعة السينية عن طريق دراسة خصائصها،طريقة انتاجها و فهم الطرق التجريبية المستخدمة في انعراجها، و معرفة أهم تطبيقاتها والميادين المستخدمة فيها هذه التطبيقات.

تعریف الاشعة السینیه

الأشعة السينية (أشعة أكس )هي نوع من أنواع الموجات الكهرومغناطيسية وهي مشابهه للضوء ولكن ذات تردد أقصر حيث تنتقل بخطوط مستقيمة منبعثة من مصدرها و لا تنحرف عن اتجاهها عند مرورها خلال المجالات المغناطيسية و الكهربائية و لذلك فهي ليست دقائق مشحونة بالكهرباء.

تعتبر الأشعة السينية مع أشعة جاما أشعة مؤينة وهذا هو سبب القلق من مخاطر الأشعة السينية، على عكس الأشعة فوق البنفسجية وتحت الحمراء وحتى موجات الراديو فهي تعتبر غير مؤينة. تتميز بطول الموجة من 10 إلى 01.0 نانومتر أي أن طاقة أشعتها بين 120 إلكترون فولت و 120 ألف إلكترون فولت وتتعين طاقة الأشعة السينية طبقا لطولها الموجي من العلاقة :

E = hλ

Ѵ = C/λ

أنتاج الأشعة السينية

في الظاهرة الكهروضوئية كان سقوط فوتون على سطح معدن يؤدي الى تحرير الكترون و لكن في عملية انتاج اشعة اكس يحدث العكس حيث ان جزء من طاقة حركة الالكترون تتحول الى فوتون هو الاشعة اكس. وبهذا فإن عملية انتاج اشعة اكس عكس الظاهرة الكهروضوئية. يتم تكوين وصنع أشعة أكس داخل أنبوبة الأشعة.

مكونات أنبوبة الأشعة

انبوب زجاجي مفرغ من الهواء: توجد بداخله جميع أجزاء أنبوبة الأشعة الداخلية الأخرى ويمنع من وجود أي هواء داخل أنبوبة الأشعة فهذا سيؤثر على إنتاج الأشعة السينية.

المهبط أو الكاثود

وظيفته هي إنتاج الإلكترونات التي سيتحول جزء منها لاحقاً إلى أشعة سينية. الكاثود هو سالب الشحنة. يتكون الكاثود من جزئين رئيسيين:

الأول هو الفتيلة.عندما يتعرض الكاثود إلى فرق جهد تسخن الفتيلة وتولد الإلكترونات وتنطلق بسرعة عالية نحو الأنود. وفرق الجهد هو الطاقة الازمة لجعل الإلكترونات تتحرك من القطب السالب إلى القطب الموجب. عادة يكون فرق الجهد في الأشعة التشخيصية مابين 20 إلى 150 كيلوفولت .وكلما زاد فرق الجهد زادت كمية الإلكترونات المنبعثة من الفتيلة. الجزء الثاني هو الموجه ودوره فقط توجيه الإلكترونات نحو الأنود

المصعد أو الأنود (الهدف)

هذا هو الجزء الذي ينتج الأشعة السينية. وهو يتكون من مادة فلزية (التنجستن (.تصطدم الإلكترونات القادمة من الكاثود بمعدن الهدف في الأنود مما يولد الأشعة السينية التي تنبعث منه لتخرج من فتحة جانبية (نافذة) عبارة عن غشاء رقيق من معدن. الأنود هو موجب الشحنة. ويتكون من جزئين: الجزء الأول هو الهدف الفلزي وظيفته تحويل الإلكترونات القادمة بسرعة عالية جدا من الكاثود إلى أشعة ً سينية. اذ ان الإلكترونات القادمة من الكاثود تتوجه نحو الهدف بسرعة عالية وتكتسب طاقة حركية. عندما تصطدم يحدث توقف مفاجئ للإلكترونات وتتحول الطاقة الحركية إلى نوعين آخرين من الطاقة هما أشعة سينية وطاقة حرارية. (99 % طاقة حرارية و1 % لتوليد أشعة) يجب أن يصنع المصعد من معدن له درجة انصهار عالية ويجب أن يكون ذو كتله كبيرة لإطالة عمر التشغيل وزيادة الفعالية.

الجزء الثاني هو القاعدة النحاسية مزودة بنظام تبريد ولديه القدرة على امتصاص الطاقة الحرارية من المعدن الفلزي. يتم تبريد المصعد بواسطة دائرة تبريد (مائية) للتخلص من الحرارة المتولدة الزائدة. يكون فرق الجهد بين المهبط والمصعد كبيرا ويتراوح بين 1 و 50 كيلو فولت (وأحيانا أكثر من ذلك).

خصائص طيف الأشعة السينية

عند دراسة حزمة من الأشعة السينية الصادرة من الهدف ما الى مكوناتها من الاطوال الموجية المختلفة وجد أنها تتكون من طيف متصل (يحتوى على جميع الأطوال الموجية للأشعة السينية) وطيف خطى (عبارة عن فوتونات ذات أطوال موجية محددة). تتغير شدة الأشعة المتولدة للطيف المتصل مع الطول الموجى للفوتونات.

الطيف الخطى (المتقطع): هو طيف مميز لذرات مادة الهدف المستخدم في توليد الأشعة (أي يختلف باختلاف مادة الهدف).

ينتج الطيف الخطي اذا اصطدم الالكترون بأحد الكترونات القريبة من النواة في مادة الهدف. حيث يكتسب هذا الاخير كمية كبيرة من الطاقة، فيقفز الى مستوى طاقة اخر من احد المستويات الخارجية ذات الظاقة الاعلى. و يظهر فرق الظاقة على شكل اشعاع موجي محدد و يلاحظ ان:

•  الطول الموجي للأشعة المميزة لا تتوقف على فرق الجهد المستخدم و لكن يتوقف على نوع العنصر فكلما زاد العدد الذري للمادة الهدف نقص الطول الموجي للإشعاع المميز –
• عند فروق الجهد المنخفضة قد لا تظهر الاشعة المميزة
• یمكن حساب الطول الموجي للاشعة السينية او الشديدة من العلاقة:

لطيف المتصل. (المستمر): يشار إليه بالطيف الأبيض (أو طيف الفرملة) وينتج نتيجة تناقص سرعة الكترونات ذرات مادة الهدف فتقل طاقتها نتيجة التصادم و التشتت، و تصدر اشعاعات كهرومغناطيسية بناءا على نظرية ماكسويل- هرتز و تنبعث هذه الطاقة المفقودة في شكل فوتونات أشعة سينية. لذلك يسمى هذا الاشعاع الاشعاع المستمر او المتصل او اشعة الكبح

الفرق بين طاقة الالكترونات الاصلية و طاقتها بعد مرورها في مادة الهدف يظهلر على شكل اشعاع كهرومناظيسي يحتوي على جميع الاظوال الموجية الممكنة لان الالكترونات تفقد ظاقتها على دفعات و بدرجات متقاربة.

طرق التحليل بالأشعة السينية

تُستخدم التقنيات القائمة على قياس طيف الأشعة السينية كأدوات تحليلية لتوصيف الأنواع المختلفة من المواد و تستخدم في العديد من تخصصات العلوم و التكنولوجيا، بما في ذلك علم الاثار و علم الفلك و الهندسة و الصحة. يمكن استخدام هذه الطرق بشكل مستقل او معا لإنشاء صورة اكثر اكتمالا للمواد او الاجسام التي تكون قيد التحليل. وتعتمد عموما طرق التحليل بالأشعة السينية على احدى المبادئ التالية:

• امتصاص الأشعة السنية: حيث ان تركيز المادة يتناسب مع طاقة الأشعة السينية الممتصة الناتجة من انتزاع الالكتروني من مداره.
• انبعاث الأشعة السنية: وفيها يتم قياس للأشعة السينية المنبعثة عن قصف النموذج
• الاستشعاع بالأشعة السينية ( الفلورة ):عندما نسلط الاشعة السينية على البلورة، فانها تفقد الكترونات، والالكترون الاعلى ينزل ويرسل اشعاعات، هذه الاشعاعات تكون متفلورة، هذه الظاهرة العشوائية تستخدم في تحليل العناصر و التحليل الكيميائي خاصة في اكتشاف المواد و الزجاج و السيراميك و في ابحاث الجيوكيمياء و الابحاث المتقدمة و علم الاثار. تعد مطيافية الاستشعاع بالأشعة السينية أوسع استخداما في التحليل الكمي.

استخدام الأشعة السينية في علم البلورات

تستخدم تقنية الاشعة السينية لمعرفة طبيعة التركيب البلوري و الاطوار البلورية الرئيسية و معلومات اخرى تخص بنية المادة. ولقد تطور العمل بهذا المجال بشكل واسع و كبير لمعرفة التركيب الذري حتى ازدادت طرق استخدام الاشعة السينية في اكثر من مجال. حدد العالم الفيزيائي لوي( ) خلال 1962 انطلاقا من شبكية بلورية طول موجة الاشعاعات . وبالتالي اصبح من الممكن القيام بالحالة العكسية اي تحديد المسافة بين الذرات بواسطة هذه الاشعة.

مبداء انعراج الاشعة السينية

تعتبر هذه الطريقة حديثة حيث تعتمد اساسا على تعريض العينة ( متعددة البلورات) الى اشعة سينية احادية الطول الموجي، جزء من هذه الحزمة ينعكس عن طريق المستويات الذرية البلورية وبشدات مختلفة ، و هذا تبعا لتوجيه المستويات وعددها، في الواقع الموجات المنعكسة من نفس العائلة تتداخل مع بعضها تداخل بناء ثم تقاس بالكاشف. قمم الحيود للاشعة السينية تنتج من التداخلات البناءة لحزمة الاشعة السينية احادية الطول الموجي المنعكسة عند زوايا محددة من مجموعة من المستويات البلورية ، للمادة معينة. يتم تسجيل شدة الاشعة المنعكسة بدلالة زاوية الانحراف لشعاع يستند مبداء هذه الطريقة ىقانون براغ

قانون براغ

تمكن براغ من فرض نموذج بسيط للتركيب البلوري يمكن بواسطة معرفة اتجاه حيود الأشعة السينية من البلورة بعد سقوطها عليها، وفي هذا النموذج افترض براغ ان المستويات المختلفة التي تتكون من ذرات البلورة يمكن ان تعكس الأشعة السينية ويبين الشكل التالي الطريقة التي استنتج بها براغ قانونه:

2d sin(θ)= nλ

و انعكاس براغ يحدث فقط عندما يكون الطول الموجي في المعادلة المستخدم للحصول على انعكاس للمستوي له احداثيات اصغر او مساوية لضعف المسافة البينية بين مستويين بلوريين متعاقبين كما هو موضح في الشكل ()، ولهذا السبب لا يمكن استخدام الضوء المرئي لدراسة البينية البلورية أي ان براغ للانعكاس هو:

λ < 2d